科技回報社會，為感謝社會各界對我中心的支持和信任，現(xiàn)回報一個月的免費FIB測試。 zZc@;S#  
FIB是什么？ (OcNC/9  
FIB中文名稱聚焦離子束，英文名Focused Ion beam。是將液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過離子槍加速，聚焦后照射于樣品表面產(chǎn)生二次電子信號取得電子像，此功能與SEM（掃描電子顯微鏡）相似，或用強電流離子束對表面原子進行剝離，以完成微、納米級表面形貌加工。 Z_ gVYa  

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圖片:201711241518224580424.jpg

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FIB線路修改 rY?F6'}  
FIB能做什么事？ y6Epi|8  
FIB是微納米分析測試的重要方式，主用應(yīng)用領(lǐng)域有： CPNN!%-  
1. IC芯片電路修改 :@`(}5F4  
2. Cross-Section 截面分析 >X,A
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3. Probing Pad *K+jsVDY  
4. FIB透射電鏡樣品制備 N)y^</Ya  
5. 材料鑒定 :F^$"~(,  
免費FIB招募范圍： <78$]Z2we  
1. 境內(nèi)外企事業(yè)單位，團體，個人均可報名參加。 Mhb '^\px  
2. 鋁制程樣品線路修改，切線連線（銅制程樣品本次不接收）。 FJa[ToZ4+  
免費FIB招募要求： R=vbUA  
1. 方案完整，清晰，明確。 bkr~13S{+  
2. 每個方案多加一兩顆備片。 `Di ^6UK(  
3. 用戶收到測試好樣品后，兩個工作日內(nèi)測試樣品功能，郵件反饋測試效果。 S,*{q(  
免費FIB招募時間： ?w]"~