芯片線路修改免費(fèi)測(cè)試

發(fā)布：探針臺(tái) 2019-07-18 13:51 閱讀：2784

科技回報(bào)社會(huì)，為感謝社會(huì)各界對(duì)我中心的支持和信任，現(xiàn)回報(bào)一個(gè)月的免費(fèi)FIB測(cè)試。
FIB是什么？
FIB中文名稱聚焦離子束，英文名Focused Ion beam。是將液態(tài)金屬離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過(guò)離子槍加速，聚焦后照射于樣品表面產(chǎn)生二次電子信號(hào)取得電子像，此功能與SEM（掃描電子顯微鏡）相似，或用強(qiáng)電流離子束對(duì)表面原子進(jìn)行剝離，以完成微、納米級(jí)表面形貌加工。

FIB線路修改
FIB能做什么事？
FIB是微納米分析測(cè)試的重要方式，主用應(yīng)用領(lǐng)域有：
1. IC芯片電路修改
2. Cross-Section 截面分析
3. Probing Pad
4. FIB透射電鏡樣品制備
5. 材料鑒定
免費(fèi)FIB招募范圍：
1. 境內(nèi)外企事業(yè)單位，團(tuán)體，個(gè)人均可報(bào)名參加。
2. 鋁制程樣品線路修改，切線連線（銅制程樣品本次不接收）。
免費(fèi)FIB招募要求：
1. 方案完整，清晰，明確。
2. 每個(gè)方案多加一兩顆備片。
3. 用戶收到測(cè)試好樣品后，兩個(gè)工作日內(nèi)測(cè)試樣品功能，郵件反饋測(cè)試效果。
免費(fèi)FIB招募時(shí)間：
2019年6月28日-2019年7月28日。
樣品樣品以收到時(shí)間為準(zhǔn)，方案以郵件時(shí)間為準(zhǔn)。
免費(fèi)FIB注意事項(xiàng)：
1. 受樣品本身，方案，設(shè)備，操作，經(jīng)驗(yàn)，運(yùn)輸，時(shí)效等多方面因素影響，F(xiàn)IB不保證每個(gè)方案都能通過(guò)測(cè)試，對(duì)結(jié)果要求苛刻的用戶請(qǐng)不要參與。
2. 免費(fèi)FIB優(yōu)先等級(jí)低于付費(fèi)測(cè)試，工程師會(huì)在設(shè)備空閑時(shí)段操作，比常規(guī)付費(fèi)測(cè)試所需周期長(zhǎng)，對(duì)時(shí)間要求緊迫的用戶請(qǐng)不要參與。避免中間催促影響工程師工作效率和測(cè)試質(zhì)量。測(cè)試完成的方案會(huì)第一時(shí)間反饋給用戶，并安排快遞送回樣品。

芯片分析檢測(cè)中心
實(shí)驗(yàn)室介紹：

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