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形貌觀察SEM掃描電鏡

發(fā)布:探針臺 2019-07-31 16:20 閱讀:1567
主要用途  2Np9*[C  
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觀察樣品表面微觀形貌,進(jìn)行尺寸及深度進(jìn)行測量,能譜元素分析。 LvhF@%(9J  
in(n[K  
性能參數(shù) x\I9J4Q  
&'T7 ~M:  
a)二次電子分辨率:1.0nm(加速電壓15kV,WD=4mm) ~