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掃描電鏡聚焦離子束能譜分析SEM,FIB,EDX

發(fā)布:探針臺(tái) 2019-12-26 16:17 閱讀:2969
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掃描電鏡聚焦離子束能譜分析SEM,FIB,EDX eX<K5K.B  
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SEM/EDX(形貌觀測(cè)、成分分析)掃描電鏡(SEM)可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。EDX是借助于分析試樣發(fā)出的元素特征X射線波長(zhǎng)和強(qiáng)度實(shí)現(xiàn)的,根據(jù)不同元素特征X射線波長(zhǎng)的不同來(lái)測(cè)定試樣所含的元素。通過(guò)對(duì)比不同元素譜線的強(qiáng)度可以測(cè)定試樣中元素的含量。通常EDX結(jié)合電子顯微鏡(SEM)使用,可以對(duì)樣品進(jìn)行微區(qū)成分分析。 PI7IBI  
服務(wù)范圍:軍工,航天,半導(dǎo)體,先進(jìn)材料等 v`{:~ q*  
服務(wù)內(nèi)容:1.材料表面形貌分析,微區(qū)形貌觀察   L? ;/cO^  
          2.材料形狀、大小、表面、斷面、粒徑分布分析 \; bW h  
          3.薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析 tE!'dpG5)  
          4.納米尺寸量測(cè)及標(biāo)示 MM_py!=>7