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手動探針臺在半導(dǎo)體失效分析中的應(yīng)用

發(fā)布:探針臺 2020-03-13 14:36 閱讀:2300
手動探針臺在半導(dǎo)體失效分析中的應(yīng)用 -/_L*oYli  
2020年比較艱難的開始了,好事多磨,相信經(jīng)歷過新型冠狀病毒的洗禮后,我國的經(jīng)濟(jì)會有爆發(fā)式的增長。開年伊始就收到很多朋友對手動探針臺使用問題的咨詢,在此收集整理供手動探針臺相關(guān)信息供大家參考。因經(jīng)驗(yàn)有限,有說的不合適的地方,望大家指正。 uj%skOD6Z  
一:手動探針臺用途: KbL V' %D  
探針臺主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。 S[tE&[$(p  
手動探針臺的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺,探針臺可吸附多種規(guī)格芯片,并提供多個可調(diào)測試針以及探針座,配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對芯片進(jìn)行科研分析,抽查測試等用途。 d!KsNkk  
手動探針臺應(yīng)用領(lǐng)域: 7'wS\/e4a  
Failure analysis  集成電路失效分析                   s[8@*/ds  
Wafer leve reliability晶元可靠性認(rèn)證 Q^p|Ldj  
Device characterization 元器件特性量測               \MxoZ  
Process modeling塑性過程測試(材料特性分析) < Dx]b*H  
IC Process  monitoring  制成監(jiān)控                     !-m&U4Ku6o  
Package part probing  IC封裝階段打線品質(zhì)測試 UgWs{y2SE.  
Flat paneprobing 液晶面板的特性測試                 Ladsw