用于測(cè)量光學(xué)元件散射光的緊湊型臺(tái)式散射儀
光的散射特性對(duì)高端光學(xué)表面、膜層和材料的發(fā)展起著至關(guān)重要的作用。對(duì)于光學(xué)表面,常常用粗糙度來確定光學(xué)表面受散射影響后的光學(xué)特性。對(duì)于諸如不均勻體、亞表面損傷和局部缺陷的散射常常會(huì)忽略掉,而這些來源的散射對(duì)系統(tǒng)有很大的影響,所以需要一個(gè)能在終端借測(cè)散射性質(zhì)的儀器來解決這一問題。在有些應(yīng)用中,可以觀察到由粗糙度直接過渡到散射的設(shè)置。 測(cè)量高性能光學(xué)元件的散射光對(duì)儀器的要求非常嚴(yán)格,主要要求概括如下: ■ 在相關(guān)的波長(zhǎng)下進(jìn)行測(cè)量(尤其是膜層) ■ 高動(dòng)態(tài)范圍(對(duì)于可見光光學(xué)至少需要11個(gè)數(shù)量級(jí)) ■ 高靈敏度(對(duì)于可見光光學(xué)等效噪聲ARS <10-6 sr-1),散射損耗在ppm級(jí),粗糙度在亞納米量級(jí) ■ 小近角限值(對(duì)于成像應(yīng)用<1°) ■ 3D功能(在入射面內(nèi)外測(cè)量) |