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手動(dòng)探針臺(tái)應(yīng)用 探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。手動(dòng)探針臺(tái)的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查測(cè)試等用途。  手動(dòng)探針臺(tái)應(yīng)用領(lǐng)域： Failure analysis 集成電路失效分析 Wafer level reliability晶元可靠性認(rèn)證 Device characterization 元器件特性量測(cè) Process modeling塑性過程測(cè)試(材料特性分析) IC Process monitoring 制成監(jiān)控 Package part probing IC封裝階段打線品質(zhì)測(cè)試 Flat panel probing 液晶面板的特性測(cè)試 PC board probing PC主板的電性測(cè)試 ESD&TDR testing ESD和TDR測(cè)試 |
