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微納米結(jié)構(gòu)分析FIB介紹

發(fā)布:探針臺(tái) 2020-05-15 13:45 閱讀:1400
納米結(jié)構(gòu)分析FIB介紹: #y }{ 'rF?  
電子光學(xué) L, L>cmpM  
NICo非浸沒(méi)式超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描鏡筒,配有: wiXdb[[#  
· 高穩(wěn)定性肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍,用于提供穩(wěn)定的高分辨率 分析電流 vkWh2z  
· 60 度雙物鏡透鏡,支持傾斜較大的樣品 T> cvV  
· 自動(dòng)加熱式光闌,可確保清潔和無(wú)接觸式更換光闌孔 )'BuRN8  
· 連續(xù)電子束電流控制和優(yōu)化的光闌角度 sBGYgBu!a  
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· 兩級(jí)掃描偏轉(zhuǎn) y<bA Y_-[  
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電子束分辨率 c`94a SnV  
zui佳工作距離下 E