（GPU光線追跡和分析）> 支持的功能 m;[z)-&"  
?(ks=rRK  
概要 3>?ip;  
實(shí)體分析 Te5_T&1Z  
表面分析 PhW#=S  
探測(cè)器實(shí)體 6 rmK_Y  
方向分析實(shí)體 )_+#yaC  
結(jié)果節(jié)點(diǎn)分析 LfF<wDvXf  
膜層 ku`'w;5jT  
分布計(jì)算 y.mojx%?a  
幾何體 lr^-  
表面 YBg\L$|n  
表面屬性 :X@;XEol~
 
非表面幾何體節(jié)點(diǎn) >5]Xl*{H)  
關(guān)鍵字 ] niWRl
 
數(shù)值精度 7E|0'PPR  
光線 x)V.^-  
光線類型 ^\_`0%`>  
光線屬性 1!=$3]l0Lj  
光線追跡路徑 AKL~F|t  
光線追跡屬性 s31^9a  
散射 ^3*gf}  
散射模型 h=)Im)  
重點(diǎn)采樣 s-k-|4  
腳本 )vy<q/o+  
光源 >"ZTyrK  
光譜 -
FE)  
表面粗糙度 B#q5Ut  
yhUc]6`V.H  
分析實(shí)體                                                       J'2R-CI,  
分析表面 
y(N-1  
GPUs不支持并會(huì)忽略分析表面。當(dāng)在GPUs使用光線追跡時(shí)，應(yīng)該使用平面類型探測(cè)器實(shí)體而不是分析表面。 o@;w!'  
hW/*]7AM^  
探測(cè)器實(shí)體 E1VCm[j2  
如果在模型中存在一個(gè)配置正確且支持的探測(cè)器實(shí)體（DE）類型，GPU光線追跡可以使用它生產(chǎn)分析結(jié)果節(jié)點(diǎn)（ARNs）。下表逐條列出了GPUs所支持的探測(cè)器實(shí)體類型。任意未支持的DE類型或者未支持的參數(shù)都會(huì)被GPUs忽略。 l;?.YtMg  
+Cau/sPXL  
Kji}2j'a  
z*x6V0'yt  
每個(gè)探測(cè)器實(shí)體使用一系列參數(shù)來定義其尺寸、像素分辨率以及計(jì)算類型等。下面的表格列出了GPU支持的每個(gè)參數(shù)。 y@hdN=-  
/mr&Y}7T
 
K$(U>D|  
v[lytX4)  
8t6h^uQ  
1. 配置了“illuminance”分析的探測(cè)器實(shí)體不會(huì)執(zhí)行所要求的分析，但如果“Abosorb rays”標(biāo)志設(shè)置未True則會(huì)使GPU上的光線停止。 nPv2: x  
2. 光線濾波器 Yh"Z@D[d  
a. 在GPUs上，僅當(dāng)計(jì)算時(shí)間設(shè)置為“at trace end”模式，才會(huì)應(yīng)用DE上的光線濾波器標(biāo)準(zhǔn)。在“During Trace”模式下，光線濾波器會(huì)被忽略，并且所有被DE截?cái)嗟墓饩�都會(huì)包含在結(jié)果中。 9|'bPOKe  
b. 在Monte-Carlo模式下，在光線追跡的最后可以獲得所有的光線并進(jìn)行光線過濾處理。 o AQ92~b  
c. 在光線分裂模式下，在光線追跡末端僅能夠獲取”母”光線并進(jìn)行光線過濾處理。這意味著，例如，當(dāng)GPUs上的光線追跡為光束分裂模式時(shí)，其不能使用光線濾波器分理處“子“散射光線。不推薦在光線分裂模式下使用光線濾波器。 %/'[GC'y!  
d. 在探測(cè)器實(shí)體方面，光線過濾應(yīng)用的基本標(biāo)準(zhǔn)是光線必須被DE攔截。例如，若一個(gè)DE的光線過濾為“散射光線“模型，預(yù)期只有與DE相交的散射光線才會(huì)對(duì)結(jié)果分析有貢獻(xiàn)。 xD_jfAH'  
e. 光線過濾對(duì)每條光線進(jìn)行屬性操作。通過對(duì)GPU光線追跡模式使用如下規(guī)則，以進(jìn)行光線屬性測(cè)試并與光線關(guān)聯(lián)： 6W#+U<  
追跡CPU光線模式 HWe.|fH:  
i. 光線通過CPU光線緩沖區(qū)進(jìn)行創(chuàng)建并初始化所有光線屬性 uj8]\MY  
ii. 光線復(fù)制到GPU光線并用于追跡 GWP"i77y0s  
iii. 光線在GPU上進(jìn)行追跡 %\-+SeC  
iv. 光線從GPU中復(fù)制回到其在CPU光線緩沖區(qū)的原始光線 ~\