失效分析流程
發(fā)布:探針臺(tái)
2020-07-08 14:31
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失效分析流程: t[L2'J.5 1、外觀檢查,識(shí)別crack,burnt mark等問(wèn)題,拍照。 .H*? '* 2、非破壞性分析:主要用xray查看內(nèi)部結(jié)構(gòu),csam—查看是否存在delamination 853]CK< 3、進(jìn)行電測(cè)。 WV9[DFU 4、進(jìn)行破壞性分析:即機(jī)械機(jī)械decap或化學(xué)decap等 h8Dtq5t4 一、失效分析簡(jiǎn)述 M%nZu{ #d7)$ub Dg
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