顯微鏡分析檢測(cè) AAfU]4
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一、顯微鏡分析檢測(cè)簡(jiǎn)介： A v>v\ :.>  
顯微鏡是我們實(shí)驗(yàn)室最常用的分析設(shè)備，成本低，操作簡(jiǎn)單，成像清晰。反饋的是樣品的原貌。通常顯微鏡是用來(lái)做外觀的檢測(cè)和圖片留存。 -sv%A7i  
外觀檢查就是目測(cè)或利用一些簡(jiǎn)單儀器，如立體顯微鏡、金相顯微鏡甚至放大鏡等工具檢查樣品的外觀，尋找失效的部位和相關(guān)的物證，主要的作用就是失效定位和初步判斷樣品的失效模式。比如檢測(cè)一個(gè)PCB樣品，外觀檢查主要檢查PCB的污染、腐蝕、爆板的位置、電路布線以及失效的規(guī)律性、如是批次的或是個(gè)別，是不是總是集中在某個(gè)區(qū)域等等。另外，有許多PCB的失效是在組裝成PCBA后才發(fā)現(xiàn)，是不是組裝工藝過(guò)程以及過(guò)程所用材料的影響導(dǎo)致的失效也需要仔細(xì)檢查失效區(qū)域的特征。 3_wR2AU~  
顯微鏡分析檢測(cè)注意事項(xiàng)：需要做顯微鏡分析的樣品：寫(xiě)清樣品情況，對(duì)放大倍率要求。顯微鏡分析屬于表面觀察，看不到內(nèi)部情況。 3L==p`   
二、常用顯微鏡介紹：

圖片:北軟檢測(cè)芯片失效分析 (3).png

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