亚洲AV日韩AV无码污污网站_亚洲欧美国产精品久久久久久久_欧美日韩一区二区视频不卡_丰满无码人妻束缚无码区_久爱WWW成人网免费视频

切換到寬版
  • 廣告投放
  • 稿件投遞
  • 繁體中文
    • 990閱讀
    • 0回復(fù)

    [推薦]用于微結(jié)構(gòu)晶片檢測(cè)的光學(xué)系統(tǒng) [復(fù)制鏈接]

    		 上一主題 下一主題
    離線infotek
     
    發(fā)帖
    5554
    光幣
    21926
    光券
    0
    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2020-09-29
    摘要 !!:mjq<0  
    50jZu'z:  
    在半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中，晶片檢測(cè)系統(tǒng)用于檢查晶片上的缺陷并找到它們的位置。為保證微結(jié)構(gòu)的圖像解析度，檢測(cè)系統(tǒng)常使用一個(gè)高NA的物鏡，工作在紫外波長(zhǎng)范圍。作為一個(gè)例子，模擬了一個(gè)完整的晶片檢測(cè)系統(tǒng)，包括高NA聚焦效應(yīng)和光與微結(jié)構(gòu)的互作用，并演示了圖像的形成。 UI%Z`.&  
     ATzFs]~K;  
    *'to#_n&W  
    建模任務(wù) oT0TbZu%  
    Uu_Es{@  
    ;lP/hG;`  
    結(jié)果 uEui{_2$  
    *YO^+]nmY  
    fK{m7?V  
    結(jié)果 r\T'_wo  
    f