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光學(xué)測量>光譜儀 H3Ws$vl9n LN=6u 任務(wù)/系統(tǒng)描述 utSW> SM?rss.=
^T>P >#u9W'@| 亮點(diǎn) QOT|6)Yb V -X*e K9\r2w'T' 復(fù)雜光學(xué)系統(tǒng)的高性能分析 Ja4j7d1: q8m[ S4Q]g 使用嚴(yán)格算法對光柵進(jìn)行嚴(yán)格矢量分析 :{8,O- !xD$U/%c 說明:光源 }0okyGg>q rt8"U<~ g#*LJ`1 wZe>}1t %]"eN{Uvn lGhhH_ 說明:孔徑 \&XtPQ 4tA`,}ywPq #MyF 1E 6<t<hP_3O >~}}*yp 說明:拋物面反射鏡 rbw~Ml0 /mK."5-cm ~rfUqM]I "=Xky,k r]3v.GZy 說明:光柵 { POfT
m} 2G&H[` s=8$h:^9> <^n@q f} 說明:探測器 r?%,#1|$$ ZCAg)/ O-uf^S4 E51'TT9 結(jié)果:3D光線追跡 $?*XPzZ M`D`-vv WF_24Mw ?{]"UnyVE* 結(jié)果:波長的變化 /Z1>3=G by AMe_D Sp-M:,H3H 由于波長的變化,入瞳的像可經(jīng)過探測器孔徑進(jìn)行掃描 os[i
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