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    [分享]使用干涉儀的光學(xué)測量 [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2021-02-24
    光學(xué)計量學(xué)是精確測量的重要技術(shù)。例如,它經(jīng)常被用于表面測試,因此在質(zhì)量控制中發(fā)揮著重要作用。VirtualLab Fusion可以幫助您對各種類型干涉儀進行建模,并將不同的光學(xué)表面和系統(tǒng)部件、甚至是傾斜和位移等對準(zhǔn)錯誤都包含在模擬中。我們以兩個廣泛使用的干涉儀--Mach-Zehnder型和Fizeau型為例進行演示。 `w6\II)aB  
    ;oV dkp  
    Mach-Zehnder干涉儀 UA/Q3)  
    +:?-Xd:p  
    我們在VirtualLab Fusion中建立了一個Mach-Zehnder干涉儀,并演示了元件的傾斜和位移是如何影響干涉條紋的。 Y8`4K*