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- 注冊時間2020-06-19
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摘要 SU,S1C_q8 Y0nnn 掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術。 通過利用白光光源的低相干性,僅當光程長度差在相干長度內時才會出現(xiàn)干涉圖樣。 因此,它可以實現(xiàn)精確的顯微鏡測量。在本案例中,氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。 w>-@h>Ln k'O^HMAn!
XO[S(q |'mwr! 建模任務 :H9\nU1
Q;9-aZ.H X`/3X}<$7 仿真干涉條紋 W 7xh ,1xX`: Be~__pd 走進VirtualLab Fusion kV>[$6 b&q!uFP 'G] P09`*) g]kM7,/M VirtualLab Fusion中的工作流程 g.L~Z1-
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