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    [分享]全場光學相干掃描干涉儀 [復制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2021-03-18
    摘要 SU,S1C_q8  
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    掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測量的技術。 通過利用白光光源的低相干性,僅當光程長度差在相干長度內時才會出現(xiàn)干涉圖樣。 因此,它可以實現(xiàn)精確的顯微鏡測量。在本案例中,氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構建并用于測量表面平滑變化的樣品。 w>-@h>Ln  
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    建模任務 :H9\nU1  
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    仿真干涉條紋 W 7xh  
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    走進VirtualLab Fusion kV >[$6  
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    VirtualLab Fusion中的工作流程 g.L~Z1-