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摘要 niyV8v x;d6vBTUb 掃描干涉儀是用于執(zhí)行表面高度測(cè)量的技術(shù)。 通過利用白光光源的低相干性,僅當(dāng)光程長(zhǎng)度差在相干長(zhǎng)度內(nèi)時(shí)才會(huì)出現(xiàn)干涉圖樣。 因此,它可以實(shí)現(xiàn)精確的顯微鏡測(cè)量。在本案例中,氙氣燈和邁克爾遜干涉儀被構(gòu)建并用于測(cè)量表面平滑變化的樣品。 X"Swi&4 (A#^l=su ?a5!
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