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摘要 PM*lnd#J '!X`X= 高數(shù)值孔徑的物鏡廣泛用于光刻、顯微等方面。 因此,在仿真聚焦時(shí)考慮光的矢量性質(zhì)是至關(guān)重要的。VirtualLab可以支持此類透鏡的光線和場(chǎng)追跡分析。通過場(chǎng)追跡分析,可以清楚地顯示出由于矢量效應(yīng)引起的非對(duì)稱焦點(diǎn)。相機(jī)探測(cè)器和電磁場(chǎng)探測(cè)器可以方便地研究聚焦區(qū)域的場(chǎng),也可以深入研究矢量效應(yīng)。 U-?r>K2
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[$M"} GF9iK|i/ 建模任務(wù) >CCy2W^W XPYf1H _u-tRHh|A 概述 j.Y!E<e4] >Dv=lgPF •案例系統(tǒng)已預(yù)先設(shè)置了高數(shù)值孔徑物鏡。 2aivc,m{r •接下來,我們演示如何按照VirtualLab中建議的工作流程在示例系統(tǒng)上執(zhí)行仿真。 !OV+2suu1 $xvwnbq#y
o)\EfPT "`K73M,c?9 光線追跡仿真 B%Oi1bO 5'Mw{` •首先選擇“光線追跡系統(tǒng)分析器”作為模擬引擎。 aS3-A4 •單擊go! 0NsPo •獲得了3D光線追跡結(jié)果。 9Lt3^MKa" 'e))i#/VF
1%.CtTi #!z'R20PH 光線追跡仿真 wj$3L3 IxG0TJ_
•然后,選擇“光線追跡”作為模擬引擎。 Ejf>QIB •單擊go! ohXbA9&(x •結(jié)果得到點(diǎn)圖(二維光線追跡結(jié)果)。 MoC/xF& bB.nevb9p
USf;}F:-C tG,xG& 場(chǎng)追跡仿真 0J
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