物理學(xué)家研發(fā)出全新非接觸式納米顯微鏡概念
近日,來自德國、美國和英國的一組物理學(xué)家在納米級(jí)空間分辨率下,觀察電子從一個(gè)原子薄層到相鄰層的運(yùn)動(dòng)情況。這種全新的非接觸式納米顯微鏡概念在研究導(dǎo)電、非導(dǎo)電和超導(dǎo)材料方面具有巨大潛力,相關(guān)研究發(fā)表在最新的《Nature Photonics》中。 納米技術(shù)有時(shí)聽起來仍然像科幻小說,但已經(jīng)是我們計(jì)算機(jī)、智能手機(jī)和汽車中現(xiàn)代電子產(chǎn)品不可或缺的一部分。晶體管和二極管等電子元件的尺寸已達(dá)到納米級(jí),僅相當(dāng)于百萬分之一毫米。這使得傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡不再足以檢查這些納米結(jié)構(gòu)。 為了開發(fā)創(chuàng)新的未來納米技術(shù),科學(xué)家們用更復(fù)雜的概念取代了光學(xué)顯微鏡,例如電子或掃描隧道顯微鏡。然而,這些技術(shù)使用電子而不是光,這會(huì)影響納米器件的特性。此外,這些重要的測量技術(shù)僅限于導(dǎo)電樣品。 來自雷根斯堡大學(xué)雷根斯堡超快納米研究中心 (RUN) 的 Rupert Huber 和 Jaroslav Fabian,聯(lián)合來自美國密歇根州立大學(xué)的 Tyler Cocker、英國曼徹斯特大學(xué)的 Jessica Boland 共同介紹了一種新技術(shù),它可以在不需要電接觸的情況下解決納米級(jí)的電子運(yùn)動(dòng)。 |