近期，中國科大郭光燦院士團隊在機器學(xué)習(xí)提高超導(dǎo)量子比特讀取效率上取得重要進展。該團隊郭國平教授研究組與本源量子計算公司合作，在本源“夸父”6比特超導(dǎo)量子芯片上研究了串擾對量子比特狀態(tài)讀取的影響，并創(chuàng)新性地提出使用淺層神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)來識別和讀取量子比特的狀態(tài)信息，從而大幅度抑制了串擾的影響，進一步提高了多比特讀取保真度。該成果以研究長文的形式發(fā)表在國際應(yīng)用物理知名期刊《Physical Review Applied》上。 w5C$39e\G  
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對量子比特狀態(tài)的高保真度測量是量子計算中的關(guān)鍵一環(huán)。在超導(dǎo)量子計算中，對量子比特的讀取依賴于量子比特與讀取諧振腔之間的色散耦合，通過探測讀取腔的色散頻移效應(yīng)可以推測量子比特所處的狀態(tài)。近些年，國際上分別實現(xiàn)了高保真度的單比特單發(fā)讀取以及多比特的多路復(fù)用式單發(fā)讀��；然而，由于各種形式的雜散耦合的存在，鄰近比特的狀態(tài)可能會對目標比特的測量結(jié)果產(chǎn)生影響，從而降低測量保真度，進而降低量子算法的成功率。隨著量子芯片的進一步擴展，為了進一步提高讀取保真度，如何解決上述串擾問題將成為研究者們面臨的主要挑戰(zhàn)。 R