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    [分享]馬赫-澤德干涉儀 [復制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2021-10-09
    摘要 z~Na-N  
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    干涉測量法是光學計量學的重要技術。 它被廣泛用于例如，表面輪廓、缺陷、高精度的機械和熱變形。 作為一個典型示例，在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡，構建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。 T20VX 8gX  
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    建模任務 :"'nK6>  
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    元件傾斜引起的干涉條紋 h6M;0_'  
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    元件移動引起的干涉條紋 1;wb(DN*c  
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