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摘要 V`1{*PrI@L rpK&OR/ 干涉測量法是光學計量學的重要技術。 它被廣泛用于例如,表面輪廓、缺陷、高精度的機械和熱變形。 作為一個典型示例,在VirtualLab Fusion中借助非序列場追跡,構建了具有相干激光光源的Mach Zehnder干涉儀。 證明了光學元件的傾斜和移位如何影響干涉條紋圖案。 e-`.Ht eNK[P=- mXOI"B9Sq (8)9S6 建模任務 |w}j!}u HFZ'xp|3dn xdgAu ^`'\eEa 元件傾斜引起的干涉條紋 8c+V$rH_ }!oEjcX' } &B6 A5TSbW']+5 元件移動引起的干涉條紋 ]}XDDPbZ} ~TEn + Y?NL|cW4 i7XY3yhC 走進VirtulLab Fusion kpIn_Ea ?$ e]K/* iX]OF.: uBx\xeI VirtualLab Fusion工作流程 b>OB}Is N68$b#9Ry −基本源模型[教程視頻] u9OY
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