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    [產(chǎn)品]雙通道EDI照度頻閃儀 FD-SIT-LS-202-b [復(fù)制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2021-10-14
    雙通道EDI照度頻閃儀 f6r!3y  
    P@y)K!{Nk  
    新國際標(biāo)準(zhǔn)<CIE S 02 6/E:2018 CIE System for Metrology of Optical Radiation for ipRGC-Influenced Responses to Light>給出了光譜影響的量化方法,采用視黑素等效日光(D65)照度Melanopic equivalent daylight (D65)illuminance, Melanopic EDI (lx)表示。 Y3@+aA  
    3.movkj  
    \Z.r Pq  
    生物節(jié)律是由生物體內(nèi)的節(jié)律基因控制的。目前研究人員普遍認(rèn)為,生物節(jié)律的主要影響因素是時間和光,時間是無法改變的,而光是人類可以調(diào)控的,用不同的光質(zhì)和光量在不同時段科學(xué)分配,從而使人大部分時間處在健康和良好的節(jié)律水平,以此為人本照明的設(shè)計目標(biāo)之一。 O%t? -h  
    "P7OD^(x/  
    功能特性 )xp3 ElH  
     頻閃/波動深度 {-)^?Zb @  
     明視覺照度(測試角度可設(shè)置) U|wST&rU|  
     非視覺照度(測試角度可設(shè)置) %YVPm*J ~  
    uc9h}QJ*  
    8UB2 du@?  
    頻閃(波動深度) 0hY3vBQ!  
    頻閃或閃爍在最近幾年逐漸被業(yè)界重視和理解,得益于多種專業(yè)儀器的開發(fā),可以從數(shù)據(jù)上具體分析閃爍對視覺或健康的影響。頻閃的危害盡管存在爭議,也有不同的標(biāo)準(zhǔn),不同時期,不同機構(gòu)提出了不同的評價方法,目前大家比較關(guān)注的是頻閃波動深度頻閃頻率(Par 1789)、SVM和Pst(CIE),波動深度如右下圖是一個100Hz的頻閃波形圖:峰值為Max,谷值為Min, 5K Ij}VN  
    波動深度=(Max-Min)/(Max+min) *100% EH".ki=e  
    波動深度是本機測量的主要指標(biāo),下圖非常典型的頻閃波動波形,最后一欄評價頻閃的嚴(yán)重程度:本例為比較嚴(yán)重(8.2)。 o0Teect=  
    其他參數(shù)說明: 4 95Y<x}=  
     頻閃指數(shù):波動圖超出平均值的面積之和與總面積之比; =8_b&4.:&  
     頻閃頻率:頻閃的頻率,當(dāng)直流或接近直流時,頻率為0Hz; <*vR_?!  
     掃描:實際是掃描頻率,掃描頻率范圍:5-200KHz; bI.hG32  
     通道:信號取樣通道,C0-C7,照度越高通道越小,采樣時間常數(shù)越小,通道小適于高頻測量,通道大高頻測量誤差會變大。 SX,$ $43  
    @@ j\OR  
    j32*9  
    光譜 rDl/R^w"  
    開機在首頁,按下右鍵,立即開始測 量目標(biāo)的光譜值,左側(cè)的紅燈開始熄滅,設(shè)備開始匹配 測試參數(shù),取樣,取樣完成,紅燈亮起,輸出光譜圖形,同時輸出顏色參數(shù), 如左下圖。 Boj R"  
    查看詳細(xì)結(jié)果,按中間鍵,首先顯示右下圖,顯色指數(shù)Ra,R1-R15。再按中間鍵,切換到光譜能量統(tǒng)計和照度、輻照度、EML EDI值;PPFD是光量子密度圖中該數(shù)據(jù)為18.571 umol/m^2/S。藍(lán)光輻照度是根據(jù)IEC 62471:2006對藍(lán)光危害光譜加權(quán)函數(shù)與光譜能量分布卷積的結(jié)果。為了便于對光譜應(yīng)用,給出個了UVA和100nm間隔的波長區(qū)間的能量分布百分比。 oVK?lQ~y  
    CUDA<Fm  
    右鍵進(jìn)入光譜測量模式,再按右鍵執(zhí)行光譜測量,通過中間鍵查看詳細(xì)的測量結(jié)果左鍵退出光譜模式,回到主頁面。
    olv&K(-ccI  
    EDI照度計的技術(shù)參數(shù) 0 Rb3| te  
    1) 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)或文獻(xiàn) }a OBQsnO  
    * <CIE S 02 6/E:2018 CIE System for Metrology of Optical Radiation for ipRGC-Influenced Responses to Light> (jKqwVs.:  
    *[The WELL Building Standard Q2 2020 version] Q``1^E'  
    *團體標(biāo)準(zhǔn):T/SIEATA000001-2020 l#uF%;GDX  
    *<中小學(xué)校教室照明質(zhì)量分級評價 Ranking evaluation for classroom lighting quality in primary and middle schools > IAA_Ft  
      *計算方法(Robert.Lucas等人): j6s j