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sF{aG6u 在測量信號或數(shù)據(jù)的情況下,很難(如果不是不可能的話)完全避免所有可能的噪聲源,因為這些噪聲源會干擾任何實驗測量。但是,噪聲的存在會干擾數(shù)據(jù)的重要特征(例如,測量光譜的半寬譜)。 W#p7M[ 因此,有一些后期處理技巧可能會有所幫助。這里我們只討論一個這樣的工具:Savitzky-Golay濾波器,它通過對一組采樣點執(zhí)行回歸算法來平滑局部噪聲。在這個例子中,我們討論了VirtualLab Fusion中這個特性的選項和效果,并以一個綠色LED燈在60 nm帶寬下發(fā)射的光譜為例進行了測試。 'k X8}bx r0XEB,}
U-I,Q+[C[^ e|\xFV=4 2.如何進入Savitzky-Golay過濾器 3#>W\_FY*D -r={P_E6 y QW7ng7D0 對于每個實值數(shù)據(jù)數(shù)組,都可以在下面找到Savitzky-Golay濾波器 !@=S,Vc. 操作→ ef7{D
P 雜項→ SeD}H=,@ Savitzky-Golay過濾器 &<PIm N,Eap KG
K($l>PB,y@ \wK&wRn) 3.可視化的過濾函數(shù) 3f[Yk#" t}YcB`q)
!ZYPz}&N_ =&bI- 4.影響過濾器-窗口大小
p{g4`o =SfNA
F 更大的窗口大小導(dǎo)致在擬合過程中考慮更多的采樣點,因此曲線更平滑。 SiLW[JXd kFn/dQ4|
k
QuEG5n.- =nhY;pY3u 更高的階數(shù)允許更詳細的曲線,但反過來也可以保留局部噪聲。 ,vR?iNd:q[ K~TwyB-h
!D#"+&&G8 i2,4:M)CV 5.局部噪聲過濾 Y[{:?i~9, vd%g'fTy9
0gd`W{YP wjA
wJOw| 6.FWHM 檢測 `q?3ux t6DSZ^Zq
0bTj/0G? tbFAVGcAM 7.等距的重采樣 ZL(
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