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高數(shù)值孔徑物鏡廣泛用于光學(xué)光刻、顯微鏡等。因此,在聚焦模擬中考慮光的矢量性質(zhì)是非常重要的。 VirtualLab非常容易支持這種鏡頭的光線和光場(chǎng)追跡分析。 通過光場(chǎng)追跡,可以清楚地展示不對(duì)稱焦斑,這源于矢量效應(yīng)。 照相機(jī)探測(cè)器和電磁場(chǎng)探測(cè)器為聚焦區(qū)域的研究提供了充分的靈活性,并且可以深入了解矢量效應(yīng)。 tLJ 7tnB 0uKm)t/
~H''RzN ^Ip\`2^u 建模任務(wù) bIT[\Q k&yBB%g
djf8FNnn Wr Wz+5M8 入射平面波 V,ZRX}O 波長 2.08 nm :TrP3wV_ 光斑直徑: 3mm 4-O.i\1q 沿x方向線偏振 (QFZM"G ^p4`o> 如何進(jìn)行整個(gè)系統(tǒng)的光線追跡分析? |x.[*'X@ 如何計(jì)算包含矢量效應(yīng)的焦點(diǎn)的強(qiáng)度分布? "=?JIQ /_<_X
7 概覽 j; /@A
lZl •樣品系統(tǒng)預(yù)設(shè)為包含高數(shù)值孔徑物鏡。 ^N}{M$ •接下來,我們將演示如何按照VirtualLab中推薦的工作流程對(duì)樣本系統(tǒng)進(jìn)行模擬。 lS;S:-
-F 3 }
$9./+ 2P57C;N8| 光線追跡模擬 S@\&^1;4Hv •首先選擇“光線追跡系統(tǒng)分析器”(Ray Tracing System Analyzer)作為模擬引擎。 :^7_E& •點(diǎn)擊Go! !G;BYr>X •獲得3D光線追跡結(jié)果。
fNr*\=$ aS3-A4
uF,%N W[!bF'-10 光線追跡模擬 _58&^:/^ •然后,選擇“光線追跡”(Ray Tracing)作為模擬引擎。 W*c^(W •單擊Go! 5;{*mJ:F •結(jié)果,獲得點(diǎn)圖(2D光線追跡結(jié)果)。 R{4[. qzD #I yM`YB0 7<Ut/1$MI 光場(chǎng)追跡模擬 tchpO3u, •切換到“第二代場(chǎng)追跡”(Field Tracing 2nd Generation)作為模擬引擎。 AxJf\B8 •單擊Go! @ceL9#:uc ^YPw'cZZ& o,1Fzdh6( tV.96P;)/9 光場(chǎng)追跡結(jié)果(照相機(jī)探測(cè)器) Ky7-6$ K!jau|FS •上圖僅顯示Ex和Ey場(chǎng)分量的強(qiáng)度。 q[Y*.%~ •下圖通過整合Ex、Ey和Ez分量顯示強(qiáng)度:由于高數(shù)值孔徑情況下相對(duì)較大的Ez分量,可以看到明顯的不對(duì)稱性。 $>~4RXC imS&N.*3m [Az^i>iH xI=[=;L 光場(chǎng)追跡結(jié)果(電磁場(chǎng)探測(cè)器) vP<8,XG
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