干涉法是光學(xué)測(cè)量的重要手段。廣泛用于測(cè)量例如，表面輪廓，缺損，高精度機(jī)械和熱畸變。作為經(jīng)典案例，我們?cè)?span onclick="sendmsg('pw_ajax.php','action=relatetag&tagname=VirtualLab',this.id)" style="cursor:pointer;border-bottom: 1px solid #FA891B;" id="rlt_10">VirtualLab中搭建一個(gè)相干激光光源的馬赫-澤德干涉儀，并且演示傾斜和平移光學(xué)元件會(huì)如何影響干涉圖樣。 -AX[vTB  
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