漢伯里布朗和特維斯（HBT）干涉測量是一種通用技術(shù)，廣泛應(yīng)用于天文學(xué)、量子光學(xué)和粒子物理學(xué)等各個物理領(lǐng)域。通過測量兩個探測器上光子到達時間的相關(guān)性作為光子空間分離的函數(shù)，HBT干涉測量法能夠確定光源的尺寸和空間分布。最近，提出了一種基于HBT方法的新型X射線成像技術(shù)，通過誘導(dǎo)這些元素在X射線波長下發(fā)出熒光，對晶體或分子中重元素的空間排列進行成像。德國電子同步加速器（DESY）的Fabian Trost及其同事，包括一些最先提出該方案的人，已經(jīng)實現(xiàn)了這項技術(shù)，成功地證明了探測器上熒光光子的時間相關(guān)性可以用于對銅膜上發(fā)射器的結(jié)構(gòu)成像。這一成就標(biāo)志著將HBT干涉測量擴展到高分辨率x射線成像的一個重要里程碑，有可能在不需要結(jié)晶的情況下對分離的生物分子的結(jié)構(gòu)和動力學(xué)進行成像。 {6iHUK  
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