-
UID：317649
-
- 注冊(cè)時(shí)間2020-06-19
- 最后登錄2025-02-06
- 在線時(shí)間1683小時(shí)
-
-
訪問TA的空間加好友用道具
|
摘要 RmrL^asg
G^"Vo x4
眾所周知，在干涉儀中，條紋對(duì)比度可能取決于光源的相干性。例如，在配有一定帶寬源的邁克爾遜干涉儀中，干涉條紋對(duì)比度隨著兩臂之間的光程差的增加而減小。通過測量可移動(dòng)反射鏡在不同位置的干涉圖對(duì)比度，可以得出光源的相干長度。典型的傅立葉變換光譜學(xué)通常是基于這類光學(xué)裝置。 X0*QV- RN hm<}p&!J L#)(H^[ 建模任務(wù) *-s,.
F+c N m):9YQ/ .d/: 30Y 非序列追跡 b|z g<
|
