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摘要 ])C>\@c6Gm u2 7S %2P 在干涉儀中，條紋的對(duì)比度可能取決于光源的相干特性。例如，在具有一定帶寬的光源的邁克爾遜干涉儀中，干涉條紋對(duì)比度隨光程差的不同而變化。通過(guò)測(cè)量可動(dòng)鏡不同位置的干涉圖對(duì)比度，可以得到光源的相干長(zhǎng)度。典型的傅里葉變換光譜通�；谶@種類型的光路。 PJCnud F |Td_S |:d  |H:<:*=6c UIn^_}jF` 建模任務(wù) d^tVD`Fm VQ2Fnb4  =: 4?>2) Khj=llo, 橫向干涉條紋——50 nm帶寬 ?!H)zz6y :.DI_XN`
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