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    [技術]光學相干層析成像的工作原理 [復制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2023-09-07
    掃描干涉測量是一種表面高度測量技術。通過利用白色光源的低相干性,只有當路徑長度差落在相干性長度內時才出現干涉圖案。因此,它能夠實現非常精確的測量,這一特性在光學相干斷層掃描(OCT)的醫(yī)學成像中得到了利用,OCT正是利用了這一物理原理。VirtualLab Fusion在單個平臺上的各種可交互建模技術有助于對相干現象進行高效建模。在這個例子中,構造了一個帶有氙燈的邁克爾遜干涉儀,并用于測量具有平滑調制表面的樣品。 tznT*EQr  
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