時間地點： Ie`13 L2  
主辦單位：訊技光電科技（上海）有限公司；蘇州黌論教育咨詢有限公司 *i- _6s  
授課時間：2023年11月27（一）-29日（三）共3天 AM 9:00-PM 16:00 8$ma;U d  
授課地點：上海市嘉定區(qū)南翔銀翔路819號中暨大廈18樓1805室 I9mvte  
課程講師：訊技光電高級工程師 ?$6Y2  
課程費用：4800RMB(課程包含課程材料費、開票稅金、午餐費用) X'`~s}vGO  
課程簡介： Qkd<sxL  
雜光理論和雜光問題研究要從以下幾個方面探索：雜散光輻射理論，雜散光合格判定標準、系統(tǒng)雜光測試方法，雜光分析與軟件，BSDF與測量數(shù)據(jù)，雜光抑制設計等。本課程介紹空間光學系統(tǒng)的雜散光來源，以及對紅外光學系統(tǒng)成像質(zhì)量的影響，在簡化分析上，討論了雜散光分析的物理模型，利用已有的光學系統(tǒng)模型討論了雜散光計算和分析方法。用具體的模型說明雜散光分析和計算假設條件，為以后利用軟件進行雜散光分析打下基礎。RC望遠鏡系統(tǒng)，具體突出紅外熱輻射和冷反射計算，在以往的方法中我們通過計算點列圖來實現(xiàn)，但存在諸多的缺陷，如環(huán)境與鏡筒溫度變化、計算量大等缺點，我們將從實際的積分公式出發(fā)進行該望遠鏡系統(tǒng)仿真。 0VGPEKRh  
課程大綱： ' )?
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1. 雜散光介紹與術語 .Jrqm  
1.1 雜散光路徑 #P?6@\  
1.2 關鍵面和照明面 LjUy*mxw  
1.3雜光內(nèi)部和外部雜散光 o(r\E0I  
2. 基本輻射度量學-輻射 {6c2{@  
2.1 BSDF及其散射模型 pm\x~3jHs  
2.2 TIS總散射概念 LK, bO|  
2.3 PST(點源透射比) E gal4  
3. 雜散光分析中的光線追跡 HaYE9/xS  
"(3BvMA&!9  
3.1 FRED軟件光線追跡介紹 I*IhwJFl/  
3.2構建雜散光模型 1}:bqI.<W  
定義光學和機械幾何 ,Td!|~I|j6  
定義光學屬性 G-He" 4& $  
3.3 光線追跡 j|/]#@
Yr  
使用光線追跡來量化收斂速度 9v}G{mQ#  
重點采樣 7A\~)U@  
反向光線追跡 MwR0@S}*
 
控制光線Ancestry以增加收斂速度 0LfU=X0#7  
使用蒙特卡洛光線劈裂增加收斂速度 jGEt+\"/QJ  
使用GPU來進行追跡 ^H2-RBE#  
RAM內(nèi)存使用設置 kRTwaNDOD  
4.散射模型 Ircp``g  
4.1來自表面粗糙的散射 oA =4=`  
低頻、中頻、高頻 &Ibu>di4[  
RMS粗糙度與BSDF的關系 8ZKo_I\  
由PSD推導BSDF )
Lwc  
擬合BSDF測量數(shù)據(jù) tvu!< dxZ  
4.2 來自劃痕(光學損傷坑)的散射 8}FzZ?DRy  
4.3 來自顆粒污染的散射 q@@T]V6  
來自球形顆粒中的散射（米氏散射理論） OnF3l