在過(guò)去的幾十年里，光電器件的集成化、小型化已經(jīng)成為現(xiàn)代光子學(xué)發(fā)展的主要驅(qū)動(dòng)力。為了更精確地認(rèn)知集成光子回路中超短光脈沖的產(chǎn)生、傳輸、相互作用和動(dòng)態(tài)演變，開(kāi)發(fā)一種可實(shí)時(shí)、原位、全參量表征的超快光脈沖片上表征技術(shù)顯得尤為重要。傳統(tǒng)的超快脈沖測(cè)量技術(shù)，如頻域分辨光學(xué)開(kāi)關(guān)(FROG)技術(shù)，無(wú)法直接集成到片上光子芯片中，而需要將信號(hào)提取出來(lái)并利用塊狀的非線性光學(xué)晶體測(cè)量相關(guān)信息。顯然，信號(hào)提取的過(guò)程將會(huì)帶來(lái)不可避免的光脈沖信息失真，且無(wú)法了解光脈沖在光子回路中的動(dòng)態(tài)演變信息。 RE"}+D