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    [技術(shù)]元件內(nèi)部場分析儀:FMM [復制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2024-01-03
    摘要 \/xWsbG\  
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    4@&8jZ)a  
    元件內(nèi)部場分析器:FMM允許用戶可視化和研究微結(jié)構(gòu)納米結(jié)構(gòu)內(nèi)部的電磁場分布。為此,使用傅立葉模態(tài)法/嚴格耦合波分析(FMM/RCWA)計算周期性結(jié)構(gòu)(透射或反射、電介質(zhì)或金屬)內(nèi)部的場。還可以指定場的哪一部分應該可視化:正向模式、反向模式或兩者同時顯示。 _{_ybXG|  
    uosFpa  
    元件內(nèi)部場分析儀:FMM :,h47'0A  
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    f R$E*Jd  
    元件內(nèi)部場分析器:FMM是光柵光學裝置的獨有功能,可提供光柵結(jié)構(gòu)內(nèi)部電磁場的可視化。 .J6Oiv.E