據(jù)國家知識產(chǎn)權局公告，茂萊光學新獲得一項實用新型專利授權，專利名為“一種應用于鏡片邊厚差的測量裝置”，專利申請?zhí)枮镃N202321945268.3，授權日為2024年1月5日。

專利摘要：本實用新型公開了一種應用于鏡片邊厚差的測量裝置，包括底板以及設置于底板上的圓盤，所述圓盤上設有至少三組沿圓周等夾角設置的滑槽，每條滑槽內(nèi)設有用于形成鏡托的T型卡塊；底板上于圓盤設有豎桿，豎桿上部固定有水平桿，水平桿遠離豎桿的一端垂直設有用于測量的厚度表。本實用新型通過在測量板上設置可移動的T型卡塊形成直徑可調(diào)整用于托起鏡片的鏡托，避免因不同尺寸鏡片而設置不同規(guī)格的圓形治具，不僅擴大了裝置的使用范圍，還減小了測量設備的成本。

圖片:CN220304507U_EDA0004354014510000011.png