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    [技術]馬赫-曾德爾干涉儀 [復制鏈接]

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    只看樓主 倒序閱讀 樓主  發(fā)表于: 2024-09-19
    摘要 mawomna  
     qb]n{b2  
    干涉測量是一種光學計量的重要技術。 它被廣泛應用于表面輪廓，缺陷，機械和高精度熱變形等領域的測量。 作為一個典型的例程，在非序列場追跡的幫助下，我們在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的馬赫-曾德爾干涉儀，本案例清楚地展示了光學元件的傾斜和移位對干涉條紋圖案的影響。 'u@ )F`  
    hJ (Q^Z  
    建模任務 S1E =E5  
    [V|,O'X ~  
    +\fr3@Yc  
    元件傾斜引起的干涉條紋 k?;A#L~  
    /XeDN-{  
    Vl%AN;o  
    元件移位引起的干涉條紋 m$ )yd~  
    eB%KXPhMm  
     
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