EMD代理美國(guó)SCI高精準(zhǔn)薄膜度量 系統(tǒng) 與 軟件分析 產(chǎn)品 ABG>W>H-S  
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美國(guó)SCI為世界薄膜度量系統(tǒng)和分析軟件行業(yè)的領(lǐng)軍者， UL3++bt  
其產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體，OLED/LCD, 光電，數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，顯示器，微型機(jī)電系統(tǒng)以及光附膜產(chǎn)業(yè)，SCI的薄膜特性度量系統(tǒng)品種豐富，從臺(tái)式研發(fā)設(shè)備到全自動(dòng)生產(chǎn)工具以及分析/設(shè)計(jì)軟件應(yīng)有盡有。 ^U;r>
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1)    Film Wizard? 軟件 : 市面上功能最強(qiáng)大的，多用途，界面友好的薄膜測(cè)試模擬軟件 Kk9eJ\  
應(yīng)用實(shí)例，目前已經(jīng)有多套Film Wizard?軟件應(yīng)用于中國(guó)光電，半導(dǎo)體行業(yè)的研發(fā)和生產(chǎn)行業(yè)。 (?ofL|Cg(  
2) FilmTek? 系統(tǒng): 為SCI出產(chǎn)的基于分光光度技術(shù)的度量系統(tǒng)，有多種不同配置，配合不同需求. Z*Lv!6WS  
1.多層厚度（1? 到 250 microns） M/x*d4b_  
2.折射率n .ng:Z7  
3.吸收系數(shù)k ]"X} FU  
4.雙折射率 =5kTzH.  
5.能隙（Eg） 7dh--.i  
6.表面粗糙度和損傷 lm[LDtc  
7.多孔性，薄膜成份，結(jié)晶度（EMA模式） *