美國NANOVEA公司的三維非接觸式表面形貌儀 三維光學輪廓儀(3D Profiling) :GK{JP  
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該儀器采用白光軸向色差原理（性能優(yōu)于白光干涉輪廓儀與激光干涉輪廓儀）對樣品表面進行快速、重復性高、高分辨率的三維測量，測量范圍可從納米級粗糙度到毫米級的表面形貌，臺階高度，給MEMS、半導體材料、太陽能電池、醫(yī)療工程、制藥、生物材料，光學元件、陶瓷和先進材料的研發(fā)和生產(chǎn)提供了一個精確的、價格合理的計量方案 Xp} vJl   
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這款產(chǎn)品憑借其當今世界最前端的技術(shù),迅速占領(lǐng)國內(nèi)外市場, Y[~6f,?^  
產(chǎn)品特性： oLr"8R\d>t  
1  采用白光軸向色像差技術(shù)，可獲得納米級的分辨率 YRp\#pVnZ  
2  測量具有非破壞性，測量速度快，精確度高 M@'V4oUz  
3  測量范圍廣，可測透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…)； (uG4W|?p  
4  尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面 Q"hI