德國(guó)美茵茲市 - 德國(guó)肖特宣布正式推出測(cè)量光學(xué)材料和光學(xué)元件應(yīng)力雙折射的新型測(cè)試系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)更快更精確的產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)。 -*C+z!?BP  
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 據(jù)介紹，這一款新型測(cè)試裝置，能在短短三十秒之內(nèi)測(cè)量出樣品的應(yīng)力分布情況，并且在300毫米的測(cè)試范圍內(nèi)，可以提供近毫米量級(jí)的空間分辨率。這項(xiàng)技術(shù)可以完善肖特集團(tuán)具有高均質(zhì)的大型光學(xué)玻璃的制造工藝，并且這類產(chǎn)品廣泛用于光學(xué)工業(yè)，尤其是在天文學(xué)、微光刻和激光鏡頭等領(lǐng)域。 VSa#X |z  
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德國(guó)肖特股份有限公司非常關(guān)注光學(xué)材料和光學(xué)元件的質(zhì)量控制，并長(zhǎng)期不懈地開(kāi)展各種活動(dòng)以確保品質(zhì)控制。目前一款全新測(cè)試裝置應(yīng)運(yùn)而生。肖特集團(tuán)先進(jìn)光學(xué)業(yè)務(wù)部應(yīng)用技術(shù)經(jīng)理拉爾夫•杰德蒙茲克(Ralf Jedamzik)博士解釋說(shuō)“僅用30秒鐘就可以記錄下整個(gè)物體的應(yīng)力分布，這使得我們可以極快地控制光學(xué)材料的質(zhì)量，而且能保證極高的精確度�！� m]:|j[!*M  
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新型測(cè)試系統(tǒng)的主要目標(biāo)是檢測(cè)并將可能由材料本身或制造過(guò)程在介質(zhì)內(nèi)部引起的應(yīng)力最小化，因?yàn)榧词故亲钶p微的機(jī)械應(yīng)力也會(huì)導(dǎo)致材料內(nèi)部偏振光的改變。我們通常并不期望產(chǎn)生“應(yīng)力雙折射”的效果，尤其對(duì)于要求具有極高精確度的尖端光學(xué)應(yīng)用而言。肖特集團(tuán)打算運(yùn)用這種新型測(cè)試裝置，來(lái)完善其具有極高均質(zhì)的大型光學(xué)材料的制造工藝，以及將來(lái)在光學(xué)材料和元件制造中的進(jìn)一步應(yīng)用。 *H,vqs\}y  
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