《現(xiàn)行
光學(xué)元件檢測與國際
標(biāo)準(zhǔn)》徐德衍 王青等編著，
科學(xué)出版社2009版，共14個壓縮
文件。
kp`0erJqw :_H>SR: 該書重點介紹了
光學(xué)元件檢測領(lǐng)域的近期進(jìn)展、方法、技術(shù)和需求。全書共10章，主要論述了現(xiàn)代光學(xué)的發(fā)展對光學(xué)元件檢測的需求；計量概念與誤差及
精度的必要知識；光學(xué)元件檢測基礎(chǔ)；光學(xué)元件的
參數(shù)檢測和性能檢測的現(xiàn)行技術(shù)，側(cè)重對特殊元件、光學(xué)表面面形、表面缺陷及表面粗糙度等內(nèi)容的敘述；介紹了光學(xué)元件技術(shù)要求和檢測要求的國際標(biāo)準(zhǔn)（ISO10110）的最新內(nèi)容和相關(guān)的輔助
資料�！冬F(xiàn)行光學(xué)元件檢測與國際標(biāo)準(zhǔn)》附錄匯總了光學(xué)檢測中4個常用的資料及相關(guān)的參考書籍。
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