摘要 眩光(Veiling Glare)是
成像光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)領(lǐng)域經(jīng)常使用的術(shù)語。從技術(shù)
角度講，眩光是到達(dá)成像系統(tǒng)的
傳感器平面的
雜散光，并且它可能會(huì)導(dǎo)致成像系統(tǒng)性能的下降。
wW~y?A"{2 通常，為了得到準(zhǔn)確的結(jié)果必須進(jìn)行純非
序列分析。然而，對于很多成像
光學(xué)系統(tǒng)，對前向散射效應(yīng)的直觀認(rèn)識十分必要。這篇文章將要展示如何使用
ZEMAX內(nèi)置的工具對一些基本的眩光進(jìn)行測量。這個(gè)分析需要花費(fèi)幾分鐘，并且會(huì)給出十分有用的結(jié)果。
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