目前在嘗試用LightTools來分析雜光，因為TracePro光線多了會追死掉。。。。。另，暫不考慮ASAP（基礎(chǔ)太弱，學(xué)習(xí)其語言要一段時間，可能后期考慮） KvFR8s  
M|CrBJv+F  
遇到關(guān)于膜層設(shè)置和表面反射率設(shè)置的問題 ^JhFI*  
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關(guān)于膜層設(shè)置： UC9{m252  
1.在TracePro里定義膜層時，給各材料厚度，然后定義表面屬性就ok，膜層的前后介質(zhì)TP好像是會自動計算的（不知道我理解的對不會）； cIw eBDl  
2.但是在LT里面定義膜層時，根據(jù)說明書里的thin film的txt文件格式好像就直接要求有參考波長與每種材料厚度（這個具體給哪個比較合適？給物理波長還是1/4波長，主要部門也沒人弄鍍膜，先前的鍍膜屬性文件也不是他們建的，問他們好像也不確定，所以比較糾結(jié)），然后LT里對膜層的前后介質(zhì)也會有直接要求，如果top的介質(zhì)是air 給1的話，那bottom的stack是不是就是給要鍍膜的透鏡的介質(zhì)？那如果這樣，豈不是每次鍍不同的透鏡表面（材料介質(zhì)不一樣，那txt文件里面的stack就要重設(shè)？），都要定義一個新膜層文件，不能像TP中那樣通用嗎？ 'tWAu