去層研磨拋光
適用于高精微(光鏡,SEM,TEM,AFM,ETC)樣品的半自動(dòng)準(zhǔn)備加工研磨拋光,模塊化制備研磨,平行拋光,精確角拋光,定址拋光或幾種方式結(jié)合拋光。
服務(wù)范圍:主要應(yīng)用于半導(dǎo)體元器件失效分析,IC反向 服務(wù)內(nèi)容:1.斷面精細(xì)研磨及拋光 2.芯片工藝分析 3.失效點(diǎn)的查找 |
去層研磨拋光
適用于高精微(光鏡,SEM,TEM,AFM,ETC)樣品的半自動(dòng)準(zhǔn)備加工研磨拋光,模塊化制備研磨,平行拋光,精確角拋光,定址拋光或幾種方式結(jié)合拋光。
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