主要用途 ?{I]!gI  
OQh(qa  
c{t(),nAA  
驗證及量測半導(dǎo)體電子組件之電性、參數(shù)及特性,比如電壓-電流、電容-電壓特性曲線, afa7'l=^i  
=24<d!R  
性能參數(shù) 6~v|pA jY  
B%Spmx
8  
a)512 channel的測試通道； BpKgUwf;C  
k"2xyzt*  
b)Force范圍：電壓：0~7V ；電流：0~500mA D2}nJFR ]  
M0zlB{eH  
c)量測范圍：電壓：0~10V ；電流：0~500mA *n%J#[e(  
JRj%d&^}  
d)測量精度：電壓：1mV ；電流：10nA； y(RK|r  
slKL(-D{  
#5x[Z[m  
S?_ ;$Cn  
應(yīng)用范圍 ul$YV9[\  
]n:)W.|`R  
1.極低的漏電流測量(例如 光二極管或太陽能電池的暗電流測量)； 3#ua  
-*EK-j  
2.CMOS,雙極性組件,BiCMOS IC 的半導(dǎo)體參數(shù)測量； K-nf@o+  
\'40u|f  
3.開/短路試驗。