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可靠性測(cè)試

發(fā)布:探針臺(tái) 2020-02-12 16:30 閱讀:1591
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可靠性測(cè)試 ]L6[ vJHx  
一種電子產(chǎn)品的可靠性高低,由它的研制,生產(chǎn),檢驗(yàn),使用各階段所決定。因此,需要環(huán)環(huán)緊扣,處處把關(guān)。從縱的方面來看,生產(chǎn)部門和使用部門有矛盾又有統(tǒng)一,而使用部門的面是相當(dāng)廣的:從橫的方面看,要使生產(chǎn),使用部門提高可靠性,就要涉及到材料配件,設(shè)備儀器等部門。在技術(shù)上,除了具備產(chǎn)品本身的設(shè)計(jì),制造等專業(yè)以外,還要具備諸如可靠性數(shù)學(xué),可靠性物理,環(huán)境技術(shù),試驗(yàn)分析技術(shù)等有關(guān)可靠性方面的廣泛知識(shí)。在組織管理上,則需要和部門協(xié)同行動(dòng),大至國家一級(jí)部門,小到企業(yè)單位內(nèi)部,都要有專門的機(jī)構(gòu)來從事管理,規(guī)劃,制訂方針政策和組織領(lǐng)導(dǎo)等工作。此外可靠性總是還與國家經(jīng)濟(jì)制度,管理政策以及國際上的技術(shù)政策密切相關(guān)。此外,可靠性工程投資大,耗時(shí)長,因此,要從社會(huì)的總體應(yīng)用效果來權(quán)衡它的經(jīng)濟(jì)效果。 IoKN.#;^  
電子產(chǎn)品的可靠性首先是和規(guī)定的條件相關(guān)的,同一產(chǎn)品在不同的溫度,溫度,或者是在不同的額定功率,額定電壓的條件下,它的可靠性是不一樣的,一般情況下,溫度越高,額定負(fù)荷越大,產(chǎn)品的可靠性就越低。所謂規(guī)定的條件就是指產(chǎn)品所處的環(huán)境條件,負(fù)荷條件及它的工作方式等等。  Q'~3Ik  
環(huán)境條件包括氣候環(huán)境(溫度,濕度,氣壓,輻射,霉菌,鹽霧,風(fēng),沙,工業(yè)氣體等)和機(jī)械環(huán)境(沖擊,振動(dòng),離心,碰撞,跌落,搖擺,引線疲勞,變頻振動(dòng)等)負(fù)荷條件包括所加電壓,電流的大小和它所處的電場(chǎng)條件等等,工作方式雙分為連續(xù)工作或間斷工作等。 ]iezwz`'  
電子產(chǎn)品的可靠性是時(shí)間的函數(shù),隨著時(shí)間的推移,產(chǎn)品的可靠性會(huì)越來越低,產(chǎn)品的可靠性是有時(shí)間性的,通常在設(shè)計(jì)產(chǎn)品時(shí)就考慮產(chǎn)品的使用期,保險(xiǎn)期或有效期等等。 F<0GX!p4u  
產(chǎn)品的可靠性與規(guī)定睥功能有著極為密切的聯(lián)系。所謂產(chǎn)品規(guī)定的功能,就是指產(chǎn)品的性能指標(biāo)。如電阻器的阻值,功率,溫度系數(shù),精度;電容器的容量,損耗角正切,絕緣電阻,耐壓,精度;晶體管的放大倍數(shù),反向漏電流等;電子計(jì)算機(jī)的運(yùn)算速度,字長,容量,指令數(shù);雷達(dá)的距離分辨力,測(cè)角,測(cè)速精度,頻率范圍,脈沖峰值功率,跟蹤速度;通信機(jī)的頻率范圍,輸出功率,通信距離,調(diào)制度,信道,工種,失真度,保密性,兼容性,機(jī)動(dòng)性等。產(chǎn)品的可靠性可以針對(duì)產(chǎn)品完成某種功能而言,也可以針對(duì)其多種功能的綜合而言,因此,在討論某一具體的產(chǎn)品可靠性以前,首先必須對(duì)產(chǎn)品在什么情況下叫做不可靠,在什么情況叫做失效加以規(guī)定。 qbx}9pp}g  
在可靠性工作中,調(diào)查環(huán)境條件對(duì)產(chǎn)品可靠性的影響,以便研究對(duì)策,采取有效措施,設(shè)計(jì)和制造出耐環(huán)境的產(chǎn)品,是一項(xiàng)重要的任 Wj I NY  
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芯片失效分析實(shí)驗(yàn)室介紹,能夠依據(jù)國際、國內(nèi)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施檢測(cè)工作,開展從底層芯片到實(shí)際產(chǎn)品,從物理到邏輯全面的檢測(cè)工作,提供芯片預(yù)處理、側(cè)信道攻擊、光攻擊、侵入式攻擊、環(huán)境、電壓毛刺攻擊、電磁注入、放射線注入、物理安全、邏輯安全、功能、兼容性和多點(diǎn)激光注入等安全檢測(cè)服務(wù),同時(shí)可開展模擬重現(xiàn)智能產(chǎn)品失效的現(xiàn)象,找出失效原因的失效分析檢測(cè)服務(wù),主要包括點(diǎn)針工作站(Probe Station)、反應(yīng)離子刻蝕(RIE)、微漏電偵測(cè)系統(tǒng)(EMMI)、X-Ray檢測(cè),缺陷切割觀察系統(tǒng)(FIB系統(tǒng))等檢測(cè)試驗(yàn)。實(shí)現(xiàn)對(duì)智能產(chǎn)品質(zhì)量的評(píng)估及分析,為智能裝備產(chǎn)品的芯片、嵌入式軟件以及應(yīng)用提供質(zhì)量保證。
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