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關(guān)注
任務(wù)
掃描電子顯微鏡SEM應(yīng)用 1、材料表面形貌分析，微區(qū)形貌觀察 2、各種材料形狀、大小、表面、斷面、粒徑分布分析 3、各種薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析  掃描電子顯微鏡樣品制備比透射電鏡樣品制備簡單，不需要包埋和切片。 樣品要求： 樣品必須是固體；滿足無毒，無放射性，無污染，無磁，無水，成分穩(wěn)定要求。 制備原則： 表面受到污染的試樣，要在不破壞試樣表面結(jié)構(gòu)的前提下進(jìn)行適當(dāng)清洗，然后烘干； 新斷開的斷口或斷面，一般不需要進(jìn)行處理，以免破壞斷口或表面的結(jié)構(gòu)狀態(tài)； 要侵蝕的試樣表面或斷口應(yīng)清洗干凈并烘干； 磁性樣品預(yù)先去磁； 試樣大小要適合儀器專用樣品座尺寸。 常用方法： 塊狀樣品 塊狀導(dǎo)電材料：無需制樣，用導(dǎo)電膠把試樣粘結(jié)在樣品座上，直接觀察。 塊狀非導(dǎo)電（或?qū)щ娦阅懿睿┎牧希合仁褂?span onclick="sendmsg('pw_ajax.php','action=relatetag&tagname=鍍膜',this.id)" style="cursor:pointer;border-bottom: 1px solid #FA891B;" id="rlt_3">鍍膜法處理樣品，以避免電荷累積，影響圖像質(zhì)量。 |
