SPTS薄膜熱吸收測(cè)試儀  　 OxUc,%e9P  
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美國(guó)SPTS公司的光熱共路干涉儀是源于斯坦福大學(xué)研究項(xiàng)目的產(chǎn)品，用于測(cè)試晶體材料和薄膜的弱熱吸收系數(shù)，對(duì)樣品的表面散射不敏感，泵浦激光波長(zhǎng)可以在190-1800nm，靈敏度可達(dá)10-7。適合于非線性激光晶體的測(cè)試，比如KTP、BBO、鈮酸鋰等；對(duì)薄膜可以進(jìn)行透過(guò)、反射的測(cè)試。弱吸收儀除了以上應(yīng)用外，還可以用于薄膜質(zhì)量的檢測(cè)，并用于控制和改善鍍膜的工藝工程。 NDJP`FI  
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