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I/V CURVE

發(fā)布:探針臺 2020-02-10 14:44 閱讀:2051
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I/V CURVE JnK<:]LcK  
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集成電路失效分析流程中,I/V CURVE的量測往往是非破壞分析的第二步(外觀檢查排在第一步),可見curve量測的重要性。隨著器件的pin腳數(shù)越來越多,傳統(tǒng)的curve tracer(多為手動)沒有辦法滿足時效的需求。Advanced推出的smart-1 auto curve tracer很好的滿足了客戶的需求,尤其是在BGA等通訊產(chǎn)品方面,具備安捷倫B1500和keithely4200無可比擬的便利性。 :+jg311}  
主要參數(shù) EDgtn)1  
1. 高分辨率之I/V量測范圍,Voltage Measure Range可達 200mV ~ 200V(需搭配keithly 2400), Current Measure Range可達1uA ~ 1A,且測試Channel可從 64 pin逐步擴充至Max.4096 pin,以滿足客戶多元化之產(chǎn)品測試需求。 aQx6;PC  
2. 機臺主要測試功能,包括:Open/Short Test、I/V Curve Analysis、Idd Measuring、Powered Leakage (漏電) Test zu @|"f^`  
可協(xié)助客戶解決其產(chǎn)品在DC Fail之電性分析,并節(jié)省客戶上Functional Tester 之借機成本及時間。 hjg1By(  
3.采用電腦化控制的操作系統(tǒng),比傳統(tǒng)的Curve Tracer更易于量取I/V data 及產(chǎn)生格式化的report。 zi6J|u  
4.s的操作系統(tǒng),易學(xué)易懂,而所建立的Device之Pin Assignment 可儲存在電腦中,未來可重復(fù)被使用,比傳統(tǒng)的Switching Matrix更便利省時。 ^lV}![do!  
5.機臺可搭配Probe Station及Emmission Microscope做漏電分析。 Kj @<$ChZw  
6.機臺本身除了可作產(chǎn)品的失效分析外,還可結(jié)合Auto Handler,做Mass Production之Open/Short Test,可謂一機多用。
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